オムロン株式会社（本社：京都市下京区、代表取締役社長：山田義仁）は、フィルム表面上の金属異物と非金属異物を判別する技術（特許出願中）を実用化し、2014年3月17日から高機能フィルム検査装置 スーパーNASP-λ（ラムダ）シリーズに搭載します。

当社は、2012年10月に独自開発の「Multi Wave Sensing（マルチウェーブセンシング）：多波長検査技術」を搭載した高機能フィルム向け検査装置 スーパーNASP-λ（ラムダ）シリーズを発売し、高機能フィルム検査事業に本格参入しました。本技術は、フィルム表面に様々な波長の光を照射し、カメラでその波長毎の反応の違いを見ることで、従来の検査方式では判別できなかった欠陥の安定的な検出を可能とするものです。
このたび当社は本技術を応用し、高機能フィルム向け検査装置 スーパーNASP-λ（ラムダ）シリーズに金属異物検査機能を追加します。物質の反射特性に着目することで金属欠陥と非金属欠陥の判別を実現し、フィルム表面上の微小金属異物をロールツーロールで検査することが可能となります。

近年スマートフォンやパソコンなどの情報端末からハイブリッドカーや電気自動車へと用途が拡大しつつあるリチウムイオン二次電池は、今後もますます高出力・高容量・軽量化が期待されており、主要部材であるセパレータと呼ばれる絶縁シートには非常に高い安全性が求められています。セパレータの検査工程においては、電極ショートの原因となる微小な金属異物（導電性異物）をロールツーロールで検査するニーズが顕在化してきています。これに対し、従来のフィルム検査装置では、微小な異物は検出できるものの金属異物と非金属異物を判別することができず、後工程で再検査が発生するなど生産効率の低下につながる場合がありました。

今回新たに搭載する金属異物検査機能では、従来の欠陥検査に加え、赤外光の反射率の違いを利用することで金属異物に特化した検査が可能となります。ロールツーロールでの表面検査で金属異物を非金属異物と区別して検出できることから、二次電池セパレータをはじめとして、電子回路部品向け絶縁シート等、幅広い用途への展開が可能です。

＜当社ウェブサイトでの金属異物検査の詳細掲載ページ＞
http://www.fa.omron.co.jp/product/special/web-inspection-system/multi-wave-sensing/metal.html

なお本機能を搭載した実機を、「第5回　高機能フィルム展*」オムロンブースにおいて実演展示します。

*「第5回　高機能フィルム展（高機能素材ワールド2014内）」
会期 ： 2014年4月16日（水）　～　4月18日（金）　3日間
会場 ： 東京ビックサイト　東3ホール

1. 数十μｍの金属異物欠陥の流出リスクを低減
   従来のコイルを用いた金属探知機は数百μm～数mmの大きさの金属が対象でしたが、今回の検査方式ではラインセンサカメラを用いて外観検査を行うため、数十μm分解能での金属異物をロールツーロールで検査することが可能となります。また、欠陥の形状や大きさまで画像で認識でき、金属種は磁性体と非磁性体を問いません。これにより、二次電池セパレータなどの絶縁シートに求められる高い安全性を確保し、金属異物欠陥の流出リスクを低減します。

2. 金属異物と非金属異物の判別により、再検査コストを削減
   絶縁シートにとって致命的な欠陥である金属異物と、その他の非金属異物を区別して検査できるため、後工程で金属異物専用の検査工程が不要になります。このため再検査による手間とコストを削減でき、生産効率向上に貢献します。

オムロン株式会社　インダストリアルオートメーションビジネスカンパニー
検査システム事業部　シート検査事業推進課
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